Automated Optical Inspection／wafer surface inspection system／YGK Corporation

客户名称

株式会社 YGK

法人/社长

高石修二

地址

〒400-0311 山梨県南アルプス市曲輪田５９５−２
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TEL.　+81-55-284-6866
FAX.　+81-55-284-6867

公司成立日

1994年4月

历史

1994年4月

株式会社 山梨技术工房设立。

1994年10月

粒子计数器关联产品开发。

1997年7月

开始销售除静电设备。

1997年9月

开发IC卡供给系统。

2000年10月

开发卡支付机器。

2003年1月

开始生产液体中粒子计数器。

2003年10月

增建工厂。

2003年10月

开始开发DLC人工合成钻石。

2004年3月

开发户外高空粒子计数器。

2007年4月

开发硅晶圆边缘检测设备。

2008年9月

开发透明基板用表离分离功能检测设备。

2009年6月

开发小型粒子的颗粒检测设备。

2009年7月

开发超音波位移计、ESD一体型屏幕。

2011年3月

增建新工厂。