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AOI外观检测设备/基板表面颗粒检测设备/株式会社 YGK
YGK
TEL.
+81-55-284-6866
〒400-0311 山梨県南アルプス市曲輪田595-2
YPI-200F
薄膜
表面颗粒检测设备
Roll to roll
式薄膜
表面颗粒检测设备
。
设备规格
检测样品尺寸
薄膜最
宽可达
300mm
扫描方式
检测部
X
轴移动检测
检测速度
200mm/sec
上料方法
roll to roll
式全自动
设备重量
约
100kg
功率
约
1.5kW(100V)
最小
检测颗粒
0.5μm
检测样品材质
透明薄膜
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山梨県南アルプス市曲輪田
595-2
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FAX +81-55-284-6867