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AOI外观检测设备/基板表面颗粒检测设备/株式会社 YGK

TEL. +81-55-284-6866

〒400-0311 山梨県南アルプス市曲輪田595-2

YPI-200F薄膜表面颗粒检测设备


              

Roll to roll式薄膜 表面颗粒检测设备

设备规格

检测样品尺寸
薄膜最宽可达300mm
扫描方式
检测部X轴移动检测
检测速度
200mm/sec
上料方法
roll to roll 式全自动
设备重量
100kg
功率
1.5kW(100V)
最小检测颗粒
0.5μm
检测样品材质
透明薄膜

バナースペース

株式会社 YGK

400-0311
山梨県南アルプス市曲輪田595-2

TEL +81-55-284-6866
FAX +81-55-284-6867