Dicing (Tape frame) Wafer Surface Inspection System
YPI-MX TF

テープフレームウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX TF

Laser inspection system for unpatterned dicing wafer with tape frame.
For develop & pilot process lines.

テープフレームウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX TF

Spec

ModelYPI-MN
Loading typeManual loading
Dimension(W)1220 x (D)1220 x (H)1810mm
Utility (Power)AC200V
Utility (Vacuum)-70kPa
-40kPa
Wafer typeTape frame wafer & Wafers
Wafer size4 to 12inch wafer
6 to 12inch tape frame wafer