会社沿革

1994年4月	創立（旧櫛形町小笠原にて創業） Particle Counter 関連商品開発
1997年	新工場（現在所在地）完成・移転 基板異物検査装置開発
2003年	工場増築
2007年	ウエハエッジ検査装置開発
2009年	透明基板用高精度表裏分離検査装置開発
2010年	ロール TO ロール検査装置開発
2011年	新工場増築 小型ハンディーパーティクルカウンタ開発
2012年	やまなし産業大賞受賞
2013年	小型パーティクルスキャナ YPI-MN 開発
2014年	YPI-MX-DC　SiC／GaNウエハ表面パーティクルスキャナ開発
2017年	YPI-MX-DC レーザ高精度制御開発
2020年	YPI-MX TF　テープフレームウエハ表面パーティクルスキャナ開発
2022年	YPI CE取得
2023年	工場増築
2024年4月	株式会社山梨技術工房から株式会社ＹＧＫへ社名変更
2024年	XGS ガラス基板研磨確認装置開発