さまざまな製品に使用される半導体は、社会の新たな価値を生み出す重要なデバイスです。株式会社YGKは、その半導体を作るウエハの検査に、新たな価値を提供することで、その一翼を担い続ける事を目指します。

YGKはコア技術に光散乱技術を持ち、レーザ光をノンパターンウエハ表面に照射した際に生じる表面や異物からの光散乱を計測し、その情報を高速にマップ化します。
またシリコンウエハだけでなく、レーザ光が透過し表面と裏面からの光散乱が生じる透明ウエハの表面のみを計測する技術を持ちます。
弊社装置にご興味を持たれましたら、是非デモ評価をご検討ください。