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AOI外观检测设备/基板表面颗粒检测设备/株式会社 YGK
YGK
TEL.
+81-55-284-6866
〒400-0311 山梨県南アルプス市曲輪田595-2
探针
设备
设备外观
设备概要
从产品架取样,检测,返回产品一连串都是全自动。
高速
检测, 可以增加定位功能。
高性能的
X-Y-Z-
θ
軸配置,
高精度的探针检测
。
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