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AOI外观检测设备/基板表面颗粒检测设备/株式会社 YGK
YGK
TEL.
+81-55-284-6866
〒400-0311 山梨県南アルプス市曲輪田595-2
YPI-MX
系列
(
半自动
)
YPI-MX-XY/YPI-MX-Θ
透明玻璃素材・
蓝宝石衬底
表面
颗粒检测设备。
透明玻璃基板
专用表面颗粒检测设备, 单抛片也可以检测。
YPI-MX
设备有
自
动
聚焦功能
,也有高精度表离分离功能。
设备规格
对应基板尺寸
最大
200mm×200mm
(
如果有需要200mm以上的wafer检测,请联系我们
)
扫描方式
XY扫描, 旋转扫描
检测时间
□200mm(X-Y)
约4
分
Φ200mm(Θ)
2
分以内
Φ150mm(Θ)
1.5
分以内
Φ100mm(Θ)
1
分以内
上料方法
机器手臂
(背面真空吸附)
设备外形尺寸
W900mm×D1,000mm×H1,757mm
设备重量
约
800kg
功率
约
2.0kW(100V)
检测样品对象
Si晶圆衬底,透明基板,蓝宝石衬底,LT基板,SiC等
最小检测颗粒
透明玻璃
0.2μm
硅
晶圆衬底
0.1μm
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〒
400-0311
山梨県南アルプス市曲輪田
595-2
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